U-SMPS 2050/2100/2200

Palas 사의 U-SMPS ( Universal Scanning Mobility particle Sizer ) 2050/2100/2200 

Long  classification column 을 이용을 하여 8 -1400nm 의 범위내에서 에어로졸의 입도분포및 농도를 측정하는데 적합하다.

Palas U-SMPS 의 classifier 는 ISO 15900 에 의거한 DEMC ( Differential Electrical mobility classifier)  장비로써 DMA ( Differential Mobility Analyzer) 라고 알려져 있기도 하다.  

이장비는 에어로졸입자들을 전자적인이동성 (electrical mobility) 나 outlet 에서의 통과하는 특성등을 이용을 하여 일정한 입자로 발생을 시킨다. 

이 입자들은 UF-CPC ( Condensation Particle Counter) 에 의거하여 측정이 되어진다.  

UF-CPC 에는 여러가지 농도범위에서 측정이 가능한 세가지 모델이 있으며, optical single particle counter 이다. 

U-SMPS 는 터치스크린과 GUI 기능을 이용을 하여 조정을 한다. 
Single scanning particle counting 은 64 channel per decade 의 구간을 30초 이내에 실행을 할 수가 있다. 

DEMC classifier 의 전압은 크기구간별로 보다 높은 측정 결과값을 나타내도록 지속적으로 조절이 된다.  

Data logger 는 장비자체의 측정값을 linear 및 logarithumic 값으로 표시하여 준다.  소프트웨어는 여러가지 data 분석과 export 기능을 가지고 있다.  

U-SMPS 는 단일작동시스템( stand alone) 장비로써 사용이 되어지나 컴퓨터나 다른 장비를 연결을 하여 사용이 가능하다.  

또한 U-SMPS는 타사의 DMA, CPC 그리고 Aerosol electrometer 에 연결을 하여 사용이 가능하다. 

Accurate size determination and reliable performance of the U-SMPS 

are extremely important especially for calibrations. All components 

are required to pass strict quality assurance testing and are assembled in‐house.

<그림 2>

그림 2 에서 U-SMPS 의 작동원리를 나타내어준다.  

에어로졸이 DEMC classifier 의 DEMC column에 들어가면 들어가면 Silicagel 이나 Nafion 등을 이용을 하여 입자로부터 수분을 제거를 한다. 

그리고,  KR 85 Bipolar Neutralize 를 이용을 하여 에어로졸의 전하량을 일정하게 조정을 한다.  

DEMC 입구의 Impactor 는 분리된 입자 (classifier size range) 보다 큰 입자들을 제거하는 목적으로 사용이 되어진다. 

에어로졸이 inlet 를 통하여 DEMC Column 으로 들어가면, 에어로졸은 주입이 되는 Sheath air 

에 의하여 일정한 흐름속도로 이동이 되도록 유도되어진다. 

전극의 표면은 높은 품질의 재질로 표면이 부드럽고(smoothness)  내식성(tolerance )이 강하다. 

Sheath air 는 closed loop안에서 지속적으로 회전을 하면서 이동이 되도록 에어로졸보다 

높은 유량의 건조하고 particle free 가스 (일반적으로 공기) 를 사용을 한다. 

Sheath air 와 Sample air 부피비는 이동에 대한 기능에 의하여 정하여지고 size classifier 의 분해능이 된다. 

방사선형태에서 대칭이 되는 전하장은 전극의 내부와 외부에 전압을 인가함으로서 

만들어지게 된다.  내부전극은 끝의 작은 SLIT 에 양극으로 부하가 된다. 

전하장에서 공기유동학적인 인력 (AERODYNAMIC DRAG FORCE) 로 각각의 입자를 균형을 

잡도록 되어 있기에 음극으로 부하된 입자들이 양극쪽으로 가서 치환이 된다. 

전기적인 유동성 (ELECTRICAL MOBILITY) 에 따라서 입자들의 일부는 slit 를 통과를 하고 DEMC 밖으로 나가게 된다. 

장비를 사용중에 전압에 의한 전하장(electrical field) 이 지속적으로 변하게 된고, 

이에 따라서 mobility 에 따른 입자들이 DEMC 밖으로 배출이 되게 되고 UF-CPC 와 같은 nano particle counter 에 의하여 측정이 되어진다.  

소프트웨어는 실제 사용조건 하에서 충분한 테스트를 통하여 만들어진다.

(1)  4 nm ~ 1.4 um 범위에서의 입도분포분석

(2)  빠르고 일정한 scanning 측정원리 

(3)  64 size classes/decade 까지의 고 분해능

(4)  10 8 particles/cm3 의 고농도 측정

(5)  DMA및 다른 maker 에서 공급하는 nano particle counter 에 연결하여 사용이 가능하다. 

(6)  측정값의 그래픽 디스플레이

(7)  7” 터치스크린 및 GUI 를 이용한 편리한 조작법

(8)  Data Logger 기능

(9)  편리한 인터페이스 장치 및 원거리 조정

(10) 높은 신뢰성과 유지비가 저렴

필터테스팅 

에어로졸 연구

대기 환경측정

호흡기 건강관련 연구

작업장 환경 및 작업장 안정성(occupational safety) 연구